华科微磁申请半导体激光发生装置偏振特性测试专利，提高测试精度

金融界2025年4月24日消息，国家知识产权局信息显示，华科微磁（北京）光电技术有限公司申请一项名为“一种半导体激光发生装置的偏振特性测试方法及测试装置”的专利，公开号CN119803867A，申请日期为2024年12月。

专利摘要显示，本发明提供一种半导体激光发生装置的偏振特性测试方法及测试装置，驱动电动旋转镜组旋转；记录每一个旋转角度值所对应的半导体光源输出的电压信号；将各个半导体激光发生装置输出的电压信号转换为激光功率；根据电动旋转镜组的旋转角度对各个激光功率进行修正；基于修正后的各个激光器功率，查找获取修正后的最大激光功率和修正后的最小激光功率，根据修正后的最大激光功率和修正后的最小激光功率计算获取半导体激光发生装置的偏振消光比；在极轴坐标系内，根据电动旋转镜组的旋转角度以及与旋转角度相对应的修正后的激光功率绘制半导体光源的偏振特性图谱。本发明极大地提高了半导体光源偏振特性测试效率，通过对激光器功率进行修正，能够消除测试系统常值误差，提高测试精度。

天眼查资料显示，华科微磁（北京）光电技术有限公司，成立于2014年，位于北京市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本200万人民币。通过天眼查大数据分析，华科微磁（北京）光电技术有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目35次，财产线索方面有商标信息3条，专利信息4条，此外企业还拥有行政许可3个。

本文源自：金融界

作者：情报员